常見的礦漿濃度測量方法——礦漿濃度計廠家

一、測量原理

礦漿濃度通常指礦漿中固體顆粒的質(zhì)量分?jǐn)?shù)或體積分?jǐn)?shù)，測量本質(zhì)是通過特定手段獲取礦漿中固體與液體的比例關(guān)系。質(zhì)量分?jǐn)?shù)計算方式為：礦漿濃度 =（固體質(zhì)量 / 礦漿總質(zhì)量）×100%；體積分?jǐn)?shù)則以固體體積占礦漿總體積的比例表示。不同測量方法基于不同物理特性，如密度、折射率、放射性等，通過轉(zhuǎn)化這些特性參數(shù)得到濃度值。

二、常見測量方法

1. 重量法（烘干法）

操作步驟：取一定體積的礦漿樣本，用濾布過濾分離固體與液體，將固體顆粒置于烘箱中，在 105-110℃下烘干至恒重，稱量固體質(zhì)量和原礦漿總質(zhì)量，再按公式計算濃度。優(yōu)勢：原理簡單，結(jié)果可靠，常用于校準(zhǔn)其他測量方法；劣勢：耗時較長（通常需要數(shù)小時），無法實時監(jiān)測，適用于實驗室分析或定期校驗。

2. 密度法

利用礦漿密度與濃度的對應(yīng)關(guān)系測量，分為在線和離線兩種形式。

離線測量：使用密度計（如比重瓶、韋氏天平）測量礦漿密度，再通過預(yù)先建立的密度 - 濃度換算表（需根據(jù)礦漿中固體顆粒的真密度校準(zhǔn)）得出濃度。

在線測量：采用差壓式密度計、γ 射線密度計等設(shè)備。差壓式密度計通過測量不同深度的壓力差計算密度，進而轉(zhuǎn)換為濃度；γ 射線密度計利用 γ 射線穿過礦漿時的衰減程度與固體含量的關(guān)系實現(xiàn)連續(xù)測量。優(yōu)勢：在線測量可實時反饋數(shù)據(jù)，響應(yīng)速度較快；劣勢：易受礦漿溫度、氣泡、顆粒分布影響，需定期校準(zhǔn)。

3. 光學(xué)法

基于礦漿的透光性或散射性測量濃度。當(dāng)?shù)V漿中固體顆粒濃度變化時，光線穿過礦漿的強度會改變，通過光電傳感器檢測光強變化，再換算為濃度。優(yōu)勢：非接觸式測量，對礦漿流態(tài)干擾小；劣勢：受顆粒顏色、粒徑分布及礦漿透明度影響較大，適用于成分相對穩(wěn)定的礦漿。

4. 電容法

利用礦漿中固體顆粒與液體的介電常數(shù)差異測量濃度。礦漿作為電介質(zhì)，其電容值會隨固體含量變化，通過檢測電容變化可得到濃度值。優(yōu)勢：結(jié)構(gòu)簡單，響應(yīng)速度快；劣勢：受礦漿溫度、濕度及電解質(zhì)含量影響顯著，需在特定工況下使用。

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